A NEW METHOD OF GRAPHIC REPRESENTATION OF SAMPLE ANALYZED BY XRF

Primer Autor
FIGUEROA, Rodolfo G.
Co-autores
CARO, David G.
Título
A NEW METHOD OF GRAPHIC REPRESENTATION OF SAMPLE ANALYZED BY XRF
Editorial
PLENUM PRESS DIV PLENUM PUBLISHING CORP
Revista
ADVANCES IN X-RAY ANALYSIS
Lenguaje
en
Resumen
Extract XRF nondestructive sample analysis is very convenient when applied to samples that should not be altered, for example, works of art or archeological pieces. When one has various similar samples of this characteristic, a good sample comparison method is necessary. There are various comparison methods among which the three component graphic representation allows a comparison in a throe element component. In an XRF analysis, a large number of peaks, representing emissions from K and L lines normally appear. When a well calibrated spectrum is provided, the determination of the elements in the samples is relatively simple. However, accuracy is difficult to acheive when results from many samples are to be compared.#El análisis no destructivo de muestras mediante XRF resulta muy conveniente para muestras que no deben alterarse, como obras de arte o piezas arqueológicas. Cuando se dispone de varias muestras similares de estas características, es necesario un buen método de comparación. Existen diversos métodos de comparación, entre los que la representación gráfica de tres componentes permite comparar los componentes de tres elementos. En un análisis XRF, normalmente aparecen numerosos picos que representan las emisiones de las líneas K y L. Con un espectro bien calibrado, la determinación de los elementos en las muestras es relativamente sencilla. Sin embargo, resulta difícil lograr precisión al comparar los resultados de muchas muestras.
Tipo de Recurso
actas de conferencia
doi
10.1154/S0376030800016323
Disciplinas de la OCDE
Química Analítica
Ingeniería de los Materiales
Versión del recurso (Recomendado-único)
Version publicada
Título de la cita (Recomendado-único)
A NEW METHOD OF GRAPHIC REPRESENTATION OF SAMPLE ANALYZED BY XRF
Revista/Libro
ADVANCES IN X-RAY ANALYSIS
Tipo de ruta
suscripción
Access Rights
metadata
Derechos de acceso
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Idioma
en
Identificador del recurso (Mandatado-único)
actas de conferencia
Lugar de la conferencia(Recomendado-repetible)
31st Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis DENVER, CO
Fecha de la conferencia(Recomendado-repetible)
AUG 02-06, 1993
Editorial
PLENUM PRESS DIV PLENUM PUBLISHING CORP
ISSN
0069-8490
Página de inicio (Recomendado-único)
741
Página final (Recomendado-único)
746
Categoría WOS
Radiology, Nuclear Medicine & Medical Imaging
Id de Web of Science
WOS:A1994BB55S00089
Colecciones
Colección Publicaciones Científicas
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