Repositorio UFRO · Omeka S

Algorithm of fundamental parameters for the SEICXRF method

Primer Autor	Figueroa, R
Co-autores	García, M Figueroa, R Rivera, R
Título	Algorithm of fundamental parameters for the SEICXRF method
Editorial	JOHN WILEY & SONS LTD
Revista	X-RAY SPECTROMETRY
Lenguaje	en
Resumen	An algorithm based on fundamental parameters and applied to the SEICXRF method, developed by one of the authors, is presented. The methodology used in the calculation is similar to the Rousseau fundamental parameters method, but the main difference is the considerations about the x-ray secondary fluorescence. In the new experimental method, the fluorescence yield by photons corresponding to the absorption edges with energies greater than the absorption edge energy of analyte does not occur. This secondary fluorescence appears in the calculation of the total fluorescence as a consequence of the integral count of the fluorescent emission from the sample. It is created by the primary fluorescence yield of the atoms whose absorption edge energies are less than the primary fluorescence energy of the analyte. The algorithm also considers the effect of the decrease of the sample fluorescent background just at the jump, originated by the change of the absorption coefficient at the absorption edge energy of the element of interest. Considering these two effects, including the primary fluorescence in the calculation, allows one to obtain the net fluorescence originated by the analyte at its own absorption edge. Copyright (C) 2003 John Wiley Sons, Ltd. Se presenta un algoritmo basado en parámetros fundamentales y aplicado al método SEICXRF, desarrollado por uno de los autores. La metodología empleada en el cálculo es similar al método de parámetros fundamentales de Rousseau, pero la principal diferencia radica en las consideraciones sobre la fluorescencia secundaria de rayos X. En el nuevo método experimental, no se produce la fluorescencia de fotones correspondientes a los bordes de absorción con energías superiores a la energía del borde de absorción del analito. Esta fluorescencia secundaria aparece en el cálculo de la fluorescencia total como consecuencia del recuento integral de la emisión fluorescente de la muestra. Se genera por la fluorescencia primaria de los átomos cuyas energías del borde de absorción son inferiores a la energía de fluorescencia primaria del analito. El algoritmo también considera el efecto de la disminución del fondo fluorescente de la muestra justo en el salto, originado por el cambio del coeficiente de absorción en la energía del borde de absorción del elemento de interés. Al considerar estos dos efectos, incluyendo la fluorescencia primaria en el cálculo, se puede obtener la fluorescencia neta originada por el analito en su propio borde de absorción. Copyright (C) 2003 John Wiley Sons, Ltd.
Tipo de Recurso	artículo original
doi	10.1002/xrs.642
Formato Recurso	PDF
Palabras Claves	INTENSIDADES DE RAYOS X ANÁLISIS ESPECTROQUÍMICO COEFICIENTES MEZCLAS X-RAY INTENSITIES SPECTROCHEMICAL ANALYSIS COEFFICIENTS MIXTURES
Ubicación del archivo	http://dx.doi.org/10.1002/xrs.642
Categoría OCDE	Spectroscopy
Materias	INTENSIDADES DE RAYOS X ANÁLISIS ESPECTROQUÍMICO COEFICIENTES MEZCLAS X-RAY INTENSITIES SPECTROCHEMICAL ANALYSIS COEFFICIENTS MIXTURES
Disciplinas de la OCDE	Química Analítica Física Atómica, Molecular y Química Matemáticas Aplicadas
Versión del recurso (Recomendado-único)	version publicada
Tipo de ruta	hibrida
Access Rights	metadata
Derechos de acceso	metadata
Id de Web of Science	WOS:000184331500006
Título de la cita (Recomendado-único)	Algorithm of fundamental parameters for the SEICXRF method
Identificador del recurso (Mandatado-único)	artículo original
Editorial	JOHN WILEY & SONS LTD
Categoría WOS	Spectroscopy Espectroscopia
Idioma	en
ISSN	0049-8246
Revista/Libro	X-RAY SPECTROMETRY
Página de inicio (Recomendado-único)	312
Página final (Recomendado-único)	316
Formato	PDF